无铅封装 - IC封装的外引脚金属焊接数据

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无铅封装 - IC封装的外引脚金属焊接数据


无铅焊锡电镀合成


注意:
关于焊锡电镀合成,由本公司决定并提供下列带「○」标识的任何一种产品.
  Sn-Bi (2.0) Sn-Ag (2.5) Sn-Cu (2.0) Pd
8-pin SOP    
MSOP型    
SSOP型      
TSSOP型      
SOT型  
SC型    
SON型    
SNT型      
8-pin DIP      
TO-92     (0<Cu≤1.4%)  

测试封装耐热性时的回流焊接温度分布变化图



预处理条件=85℃, 85%RH,168小时+回流焊接
+
预处理条件=85℃, 85%RH, 96小时+回流焊接

2次回流焊接后,测试长期的可靠性
合格

注:其他的温度分布变化也在测试中

本温度分布变化图所标示的数值是极限特性值
与实际推荐的温度分布变化有不同的情况,请注意。
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备注 1. 温度设定点:封装表面(树脂表面)
2. 加热方法:2次

融点温度


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焊接可靠性


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测试焊锡接合界面的剥离强度


  • 使用焊锡膏=Sn-3.0Ag-0.5Cu
  • 图表上的红颜色线为「EIAJ-ET7403记载的强度规格」

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详细资料